參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項(xiàng)目

1.反射面反射率：波長范圍400-1600nm，反射率≥99.8%（@1550nm）

2.自由光譜范圍（FSR）：測量精度0.01GHz（1-100GHz頻段）

3.精細(xì)度（Finesse）：計算值F>100（基于半高寬與FSR比值）

4.透射譜半高寬（FWHM）：分辨率≤0.05nm（C波段測試）

5.腔長穩(wěn)定性：溫度循環(huán)-40℃~85℃,，漂移量≤0.1nm

檢測范圍

1.光學(xué)薄膜涂層諧振器：多層介質(zhì)膜/金屬膜復(fù)合結(jié)構(gòu)

2.半導(dǎo)體材料諧振腔：GaAs/InP基微納加工器件

3.光纖型FPI：光纖布拉格光柵（FBG）集成器件

4.MEMS可調(diào)諧諧振器：靜電/熱驅(qū)動式微鏡系統(tǒng)

5.高溫超導(dǎo)薄膜諧振器：YBa2Cu3O7-x薄膜器件

檢測方法

1.ISO13142:2015《光學(xué)與光子學(xué)-激光器與激光相關(guān)設(shè)備-法布里珀羅干涉儀測試方法》

2.ASTME903-12《使用積分球法測定材料太陽吸收比的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》

3.GB/T26332.3-2022《光學(xué)薄膜元件環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：濕熱試驗(yàn)》

4.ISO10110-5:2015《光學(xué)和光子學(xué)-光學(xué)元件制圖要求第5部分:表面形狀公差》

5.GB/T13747.22-2019《激光器和激光相關(guān)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)第22部分：激光諧振腔測試方法》

檢測設(shè)備

1.ZygoVerifireMST干涉儀：波長632.8nm,PV值測量精度λ/200

2.KeysightN5227BPNA微波網(wǎng)絡(luò)分析儀：頻率范圍10MHz-67GHz,動態(tài)范圍123dB

3.BrukerContourElite掃描電子顯微鏡：分辨率1nm@15kV,腔體形貌分析

4.AgilentCary7000紫外可見近紅外分光光度計：波長范圍175-3300nm,帶寬0.05nm

5.Newport1918-R光功率計/能量計：波長范圍200-1800nm,功率測量精度0.25%

6.ThorlabsSA210-5B掃描FP干涉儀：自由光譜范圍1-10GHz,精細(xì)度≥200

7.EspecPL-3KPH溫度沖擊試驗(yàn)箱：溫變速率15℃/min,溫度范圍-70℃~180℃

8.MitutoyoCrysta-ApexS1166坐標(biāo)測量機(jī)：空間分辨率0.01μm,三維尺寸測量

9.HoribaLabRAMHREvolution顯微拉曼光譜儀：空間分辨率<1μm,應(yīng)力分布測試

10.VeecoDektakXT臺階儀：垂直分辨率0.1,膜厚均勻性分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)